AMICS自動化礦物學(xué)分析系統(tǒng) (MLA)
TM系列專用能譜儀(EDS) Quantax75
TM系列專用能譜儀(EDS)AZtec系列
光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統(tǒng) MirrorCLEM
日立熱場式場發(fā)射掃描電鏡 SU5000
產(chǎn)品介紹:
此次推出的SU7000采用全新設(shè)計的探測器,使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號來調(diào)整樣品與透鏡之間的距離(工作距離/以下簡稱WD),以獲得zui佳的觀察與分析條件,而SU7000通過新研發(fā)的樣品倉以及檢測器系統(tǒng),可在同樣的WD的條件下更gao效地接收各種信號,縮短了樣品觀察和分析的時間,提高了測試效率?!《?,SU7000還配置了可同時6通道顯示界面(前代機型只能同時顯示4通道),進一步升電鏡控制系統(tǒng),大幅提高了信號獲取速度,由此實現(xiàn)了樣品的gao效率觀察。它還標配超大樣品倉,增設(shè)了附件接口,可適用于各種樣品的觀察與分析。
主要特點:
在相同的WD條件下,可同時實現(xiàn)二次電子,背散射電子觀察與X射線能譜分析。
可同時實現(xiàn)6通道檢測與顯示;
成像分辨率zui大可達10240x7680像素;
配置18個附件接口,支持低至300Pa的低真空模式觀察;(選配)
報價:面議
已咨詢2638次電子顯微鏡
報價:¥5000000
已咨詢174次SEM 掃描電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢793次掃描電鏡(SEM)
報價:面議
已咨詢61次場發(fā)射掃描電子顯微鏡 (FE-SEM)
報價:面議
已咨詢2430次電子顯微鏡
報價:面議
已咨詢418次掃描電鏡(SEM )
報價:面議
已咨詢1367次場發(fā)射掃描電鏡SEM5000
報價:面議
已咨詢1391次掃描電子顯微鏡
S-4800型高分辨場發(fā)射掃描電鏡(簡稱S-4800)為日本日立公司于2002年推出的產(chǎn)品。該電鏡的電子發(fā)射源為冷場,物鏡為半浸沒式。在高加速電壓(15kV)下,S-4800的二次電子圖像分辨率為1 nm,這是目前半浸沒式冷場發(fā)射掃描電鏡所能達到的最高水平。該電鏡在低加速電壓(1kV)下的二次電子圖像分辨率為2nm,這有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。S-4800的主要附件為X射線能譜儀。
二手 日立 SEM+EDX 冷場電鏡SU8000系列高分辨場發(fā)射掃描電鏡,其中SU8020不光1kv的分辨率提升到1.3nm,并且在探測器設(shè)計上有新的突破,配置了Lower、Up-per和Top三個Everhart-Thornley型探測器,可以接受SE、LA-BSE和HA-BSE多種信號,實現(xiàn)微區(qū)的形貌襯度、原子序數(shù)襯度、結(jié)晶襯度和電位襯度的觀測;結(jié)合選配的STEM探測器。
日立SU-8010是日立高新技術(shù)的SEM的全新品牌,新品牌 "REGULUS系列" 電子光學(xué)系統(tǒng)進行了最優(yōu)化處理,使得著陸電壓在1KV時分辨率較前代機型提高了約20%。另外,最適合低加速電壓下高分辨觀察的冷場電子槍可將樣品的細節(jié)放大,并獲得高質(zhì)量的圖片。最大放大倍率也由之前的100萬倍提高到了800萬倍。除此之外,為了能更好的應(yīng)對不同樣品的測試和保持并發(fā)揮出高性能,還對用戶輔助工能進行了強化。
日本電子掃描電鏡JSM-IT300型是一款高性能,多功能,多用途的鎢燈絲掃描電鏡。顛覆性的前衛(wèi)性外觀設(shè)計還特別吸引眼球。操作改為觸摸屏控制,簡單化,從此操作電鏡非常只能化。
掃描電子顯微鏡主要用于觀察物體的表面形貌像,除此意外,如果配備能譜分析系統(tǒng),在進行獲得樣品表面像的時候,還可以對樣品的某個定點位置進行元素的半定量分析。根據(jù)EDS分析出的元素比例,進行擬合處理,可以大概的判斷出樣品是什么類型的樣品。
SU3900/SU3800 SE系列作為FE-SEM產(chǎn)品,配置超高分辨率與觀察能力。此系列突破了傳統(tǒng)SEM產(chǎn)品受安裝樣品尺寸與重量的限制,通過簡單的操作即可實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集??捎糜阡撹F等工業(yè)材料,汽車、航空航天部件等超大、超重樣品的觀察。 此外,SE系列包括4種型號(兩種類型,兩個等級),滿足眾多領(lǐng)域的測試需求。用戶可以根據(jù)實際用途(如微觀結(jié)構(gòu)控制:用于改善電子元件、半導(dǎo)體等材料的功能和性能;異物、缺陷分析:用于提高產(chǎn)品品質(zhì))選擇適合的產(chǎn)品。
德國Zeiss 場發(fā)射電子顯微鏡SIGMA 300 ,ZLGemini鏡筒,超高的束流穩(wěn)定性,超高的束流穩(wěn)定性,zhuo越的低電壓性能,In Lens 探測器,磁性材料高分辨觀察,ding級X射線分析設(shè)計,便越操作系統(tǒng)設(shè)計,超大空間,多接口,升級靈活。
德Zeiss 電子束直寫儀 Sigma SEM,利用曝光抗蝕劑,采用電子束直接曝光,可在各種襯底材料表面直寫各種圖形,圖形結(jié)構(gòu)(Z小線寬為10nm),是研究材料在低維度、小尺寸下量子行為的重要工具。廣泛應(yīng)用于納米器件,光子晶體,低維半導(dǎo)體等前沿領(lǐng)域。